Großer und kleiner SD-Karten-Goldpunkt für DIP48-Doppelkopf-Nadeltestsitz

Leistungsparameter:
1. Arbeitsfrequenz: Niederfrequenz
2. Anwendungsbereich: integrierte Schaltung IC
3. Schnittstellentyp: Sonde
4. Sondenmaterial: Berylliumkupfer (Standard)
5. Isoliermaterial: FR-4, PPS usw.

Merkmale:
1. Es nimmt eine manuelle Flip-Struktur an, die einfach zu bedienen ist;
2. Das Produkt hat einen hohen Grad an Universalität. Solange der Grenzrahmen geändert wird, können alle SD-Karten mit gleichen Pins und unterschiedlichen Abmessungen getestet werden;
3. Die Druckplatte der oberen Abdeckung nimmt eine spezielle Struktur an, und der Abwärtsdruck ist stabil, um sicherzustellen, dass der Druck der SD-Karte gleichmäßig ist und sich nicht verschiebt;
4. Der hochpräzise Positionierungsschlitz gewährleistet eine genaue Positionierung der SD-Karte und eine hohe Produktionseffizienz.
5. Ausgestattet mit verschiedenen Haupterkennungskarten kann die Austauschbarkeit von Chipsbank-, UT165-, Anguo-, SMI- und NETZWERK-Lösungen realisiert werden
6. Die Sonde kann ersetzt werden, die Wartung ist bequem und die Kosten sind niedrig;